方案挑戰(zhàn)

新型自動(dòng)化和人工智能等新技術(shù)的高速發(fā)展賦能工業(yè)機(jī)器視覺(jué)應(yīng)用向更多的場(chǎng)景滲透。通過(guò)應(yīng)用機(jī)器視覺(jué)和深度學(xué)習(xí)算法,可以實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的缺陷檢測(cè)和提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。AOI檢測(cè)作為一種高效且準(zhǔn)確的自動(dòng)化檢測(cè)方法，在越來(lái)越多的制造領(lǐng)域得到了深度的應(yīng)用。

解決方案

智微工業(yè)提供高性能融合深度學(xué)習(xí)視覺(jué)控制方案，包括IPC-4U系列（INTEL平臺(tái)）、PAS-6000系列（Nvidia Jestson Orin）和自帶GPU的JMC系列機(jī)器視覺(jué)控制器，具有高性能計(jì)算、實(shí)時(shí)響應(yīng)、多任務(wù)協(xié)調(diào)、數(shù)據(jù)管理和高可靠高穩(wěn)定性等特點(diǎn)。系列整機(jī)具備高溫、高濕、防塵、抗震等特性，能保持長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行，確保數(shù)據(jù)采集和處理的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性，結(jié)合強(qiáng)大的軟件功能，以實(shí)現(xiàn)高效準(zhǔn)確的定位測(cè)量和缺陷檢測(cè)任務(wù)。

方案優(yōu)勢(shì)

智微工業(yè)提供豐富的機(jī)器視覺(jué)控制器方案可用于定位測(cè)量、表面缺陷檢測(cè)等工業(yè)視覺(jué)的應(yīng)用，滿足工業(yè)自動(dòng)化領(lǐng)域需要通過(guò)深度學(xué)習(xí)來(lái)實(shí)現(xiàn)缺陷檢測(cè)的應(yīng)用需求，方便用戶快速部署AI機(jī)器視覺(jué)解決方案，實(shí)現(xiàn)高效準(zhǔn)確的定位測(cè)量和缺陷檢測(cè)任務(wù)，滿足工業(yè)自動(dòng)化對(duì)于學(xué)習(xí)能力、計(jì)算能力、數(shù)據(jù)處理能力和控制能力的深度要求。

方案挑戰(zhàn)

針對(duì)傳統(tǒng)CV，需要滿足一般工業(yè)應(yīng)用中的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)需求，如簡(jiǎn)單的尺寸測(cè)量、外觀檢測(cè)和顏色識(shí)別等；并在保證檢測(cè)效果的同時(shí)，控制系統(tǒng)成本，提供高性價(jià)比的解決方案， 易于安裝、配置和維護(hù)，能夠快速適應(yīng)不同的生產(chǎn)線和應(yīng)用場(chǎng)景。

解決方案

智微工業(yè)傳統(tǒng)CV機(jī)器視覺(jué)控制器包括BOX PC:JET超薄型系列、PAS書本式系列、JEA ARM平臺(tái)系列，基于高性能處理器實(shí)現(xiàn)強(qiáng)勁的CPU/GPU運(yùn)算能力，提供了簡(jiǎn)便、靈活且高效的視覺(jué)檢測(cè)能力，具有多個(gè)擴(kuò)展插槽，能夠支持高性能計(jì)算，助力高精度機(jī)器視覺(jué)的邊緣部署。適用于各類標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)需求的工業(yè)應(yīng)用場(chǎng)景。通過(guò)簡(jiǎn)便易用的特點(diǎn)，企業(yè)可以快速部署和使用該系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)線的智能化和自動(dòng)化升級(jí)。

方案優(yōu)勢(shì)

采用INTEL/NV/RK等平臺(tái)高性能處理器，自主打造高算力、多形態(tài)、圖形處理能力出色的工控機(jī)產(chǎn)品；

采用多網(wǎng)口、多USB接口、多COM口等豐富的I/O功能接口設(shè)計(jì)，供多條PCIE擴(kuò)展槽等可直接外部設(shè)備擴(kuò)展；

嚴(yán)格按照工業(yè)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)打造，具備抗震、防塵、防潮等堅(jiān)固耐用特性，可在寬溫、復(fù)雜電磁環(huán)境等各種條件下穩(wěn)定運(yùn)行，適用于各種工業(yè)場(chǎng)景。